根据工作环境(周围环境、液体或真空)、所探察的测量力(短程或长程)和驱动方式(机械、电、磁或光)的不同,扫描探针显微镜 (SPM) 可以采用不同的形式。SPM 是一种成熟的高分辨率成像工具。它经常用于纳米技术和纳米光学等领域的跨学科项目,并且可以用于应对和操作纳米级物体,例如单个原子、分子或者量子点。
Zurich Instruments 致力于解决 SPM 在仪器方面存在的挑战,尤其是与新的操作模式、新型传感器、快速实时数据采集以及反馈环有关的问题。Zurich Instruments 的仪器涵盖了从直流到 600 MHz 的频率范围,可以帮助使用 SPM 的专业人员开展时域和频域数据分析,对针尖和样品之间复杂的相互作用进行确定和控制。